超聲波TOFD相控陣Ominscan SX

超聲波TOFD相控陣Ominscan SX

小巧輕便、方便操作的OmniScan

OmniScan SX
Olympus不無自豪地為(wei) 廣大用戶推出了xin研製的OmniScan SX，這是一款積累了20多年探索相控陣技術的經驗，體(ti) 現了OmniScan精華的探傷(shang) 儀(yi) 。為(wei) 了更加方便地使用儀(yi) 器，OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的新型軟件界麵。OmniScan SX是一款單組無模塊儀(yi) 器，針對檢測要求較低的應用，這款儀(yi) 器操作極為(wei) 方便，性價(jia) 比*。
OmniScan SX有兩(liang) 種型號：SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR相控陣單元，與(yu) 僅(jin) 具有UT通道的SX UT一樣，也配備了一個(ge) 常規UT通道，可以進行脈衝(chong) 回波、一發一收或TOFD檢測。與(yu) OmniScan MX2相比，OmniScan SX重量輕33 %，體(ti) 積小50 %，具有OmniScan產(chan) 品*的更為(wei) 輕巧便攜的性能。

超聲波TOFD相控陣Ominscan SX

設置
可以在NDT SetupBuilder中為(wei) 檢測進行設置，然後再通過SD卡或USB鑰匙，將設置直接導入到OmniScan SX儀(yi) 器。進行采集之前，隻需在儀(yi) 器中進行幾項基本操作，如：設置閘門和範圍。由於(yu) OmniScan SX具有以下幾個(ge) 特性，用戶也可以在儀(yi) 器中非常方便地創建設置：
•自動探頭識別
•單步驟、預先配置應用的向導
•焊縫覆蓋與(yu) 聲線跟蹤模擬
校準
為(wei) 完成一項符合規範的檢測，儀(yi) 器中的校準向導可以保證每組中的每個(ge) 聚焦法則都直接等同於(yu) 一個(ge) 單通道常規探傷(shang) 儀(yi) 。用戶在完成所要求的校準過程中，會(hui) 得到向導的分步指導。所校準的項目包括聲速、楔塊延遲、靈敏度、TCG、DAC、AWS及編碼器。現在，儀(yi) 器可以自動完成TOFD PCS校準與(yu) 直通波矯直的操作。
采集
在進行手動、單線或光柵編碼掃查時，OmniScan SX可以方便地對檢測參數進行配置。采集數據可以用戶選擇的視圖形式實時顯示在屏幕上，用戶還可以將數據存儲(chu) 於(yu) 具有熱插拔功能的SD卡或USB 2.0設備中。
•智能布局
•全屏模式，可更好地顯示缺陷
•可以使用不同的閘門組合對同步和測量進行處理數據分析和報告製作
•數據光標、參考光標與(yu) 測量光標用於(yu) 缺陷的定量。
•擴展的數據庫、預先定義(yi) 的三角學參數列表、缺陷相對於(yu) 軸的統計數據、體(ti) 積位置信息、基於(yu) 規範的合格標準、腐蝕成像的統計數據等等。
•在進行離線閘門重新定位的操作中，視圖可被鏈接在一起，進行交互式分析和自動更新。
•優(you) 化的預置布局可對缺陷的長度、深度和高度進行快速方便的定量。
無論您想在計算機中完成數據分析，還是希望您的OmniScan儀(yi) 器采集完數據後繼續在現場進行數據分析，OmniPC或TomoView都是理xiang的與(yu) OmniScan配套使用的軟件工具。

應用

1.相控陣焊縫檢測

OmniScan PA是Olympus公司為(wei) 石油和天然氣工業(ye) 開發的手動和半自動相控陣焊縫檢測解決(jue) 方案的核心。這些係統不僅(jin) 可用於(yu) 符合ASME、API及其它規範標準的檢測，而且還具有高速探測、便於(yu) 缺陷指示判讀的特性。

2.腐蝕成像和複合材料檢測

隨著OmniScan SX的出現，零度檢測變得更為(wei) 簡便易行。在腐蝕或複合材料的檢測應用中，Olympus可提供探測材料中異常現象或壁厚損失的經過實地驗證的解決(jue) 方案。

3.TOFD焊縫檢測

在主要探測焊縫缺陷的應用中，TOFD是一種簡便易行、效率*的檢測方法。這種方法不僅(jin) 可以快速定量在焊縫體(ti) 積中發現的缺陷（焊縫通常是製造缺陷高發的地帶），且其性價(jia) 比*。

4.組件檢測

組件檢測利用超聲技術，可以探測到裂縫、壁厚減薄以及其它各種缺陷。OmniScan SX既可以使用角度聲束，也可以使用線性零度聲束，因此成為(wei) 完成這類單組檢測應用的一個(ge) 性價(jia) 比*的解決(jue) 方案。