當前位置:首頁 > kaiyun体育app下载安装 > 物理特性分析儀(yi) 器 > 激光粒度儀(yi) > TS-W1激光粒度分析儀(yi)
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品牌 | 其他品牌 | 測量時間 | 20秒 |
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分辨率 | 0.01微米 | 測量範圍 | 0.1-1000微米 |
重現性 | 1 | 分散方式 | 濕法分散 |
價格區間 | 1萬-5萬 | 儀器種類 | 顆粒圖像分析儀 |
產地類別 | 國產 | 應用領域 | 醫療衛生,生物產業,建材,紡織皮革,汽車 |
激光粒度分析儀(yi) 概述:
隨著科學技術的日益進步和發展,在國民經濟的許多部門,如能源、動力、機械、醫藥、化工、輕工、冶金、建材等行業(ye) 中都出現了越來越多的細微顆粒密切相關(guan) 的技術問題有待解決(jue) ,顆粒粒徑大小的測量是其中基本也是重要的一個(ge) 方麵。許多情況下,顆粒粒徑大小不僅(jin) 直接影響到產(chan) 品的性能與(yu) 質量,而且對工藝過程的優(you) 化、能源消耗的降低、環境汙染的減少等都有重大的關(guan) 聯。 近年來,與(yu) 高新技術、國防工業(ye) 、軍(jun) 事科學等密切相關(guan) 的各種新型顆粒材料,特別是超細納米顆粒的問世和利用,給顆粒粒徑的測量提出了新的和更高的要求,不但要求快速、自動化數據處理、而且也要求提供可靠的更豐(feng) 富的數據和更有用的信息,以滿足科研領域和工業(ye) 質量控製方麵應用的需要。TS-W係列激光粒度分析儀(yi) 正是為(wei) 了滿足用戶上述新要求而精心研製開發的一代激光粒度分析儀(yi) 。該儀(yi) 器集先進激光技術、半導體(ti) 技術、光電技術、微電子技術和計算機技術的應用,綜合了光、機、電、計算機於(yu) 一體(ti) ,以光散射理論為(wei) 基礎的顆粒粒徑測量技術突出的優(you) 點逐步取代了一些傳(chuan) 統的常規測量方法,必將成為(wei) 一代新穎的顆粒粒徑測量儀(yi) 器。並且在科研領域和工業(ye) 質量控製的粒度分布分析中發揮著越來越大的作用。
TS-W係列激光粒度分析儀(yi) 的高品質和所測樣品的廣泛性使得它在實驗室的實驗研究和工業(ye) 生產(chan) 的質量控製等諸多領域中得到了廣泛的應用。例如:材料、化工、製藥、精細陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、塗料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為(wei) 生產(chan) 原材料、產(chan) 品、中間體(ti) 等。
激光粒度分析儀(yi) 技術特點:
13. 軟件提供眾(zhong) 多物質折射率供用戶選擇,滿足用戶查找被測顆粒折射率要求;
14. 考慮到測試結果的保密要求,隻有授權操作者才能進入相應數據庫讀取數據和處理;
15. 本儀(yi) 器符合但並不局限於(yu) 以下標準:
ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法
技術參數:
工作條件:
配置清單:
產(chan) 品谘詢