濕法激光顆粒度儀Mie散射理論

隨著科學技術的日益進步和發展，在國民經濟的許多部門，如能源、動力、機械、醫藥、化工、輕工、冶金、建材等行業(ye) 中都出現了越來越多的細微顆粒密切相關(guan) 的技術問題有待解決(jue) ，顆粒粒徑大小的測量是其中基本也是重要的一個(ge) 方麵。許多情況下，顆粒粒徑大小不僅(jin) 直接影響到產(chan) 品的性能與(yu) 質量，而且對工藝過程的優(you) 化、能源消耗的降低、環境汙染的減少等都有重大的關(guan) 聯。 近年來，與(yu) 高新技術、國防工業(ye) 、軍(jun) 事科學等密切相關(guan) 的各種新型顆粒材料，特別是超細納米顆粒的問世和利用，給顆粒粒徑的測量提出了新的和更高的要求，不但要求快速、自動化數據處理、而且也要求提供可靠的更豐(feng) 富的數據和更有用的信息，以滿足科研領域和工業(ye) 質量控製方麵應用的需要。儀(yi) 器集先進激光技術、半導體(ti) 技術、光電技術、微電子技術和計算機技術的應用，綜合了光、機、電、計算機於(yu) 一體(ti) ，以光散射理論為(wei) 基礎的顆粒粒徑測量技術突出的優(you) 點逐步取代了一些傳(chuan) 統的常規測量方法，必將成為(wei) 一代新穎的顆粒粒徑測量儀(yi) 器。並且在科研領域和工業(ye) 質量控製的粒度分布分析中發揮著越來越大的作用。

本儀(yi) 器符合但並不局限於(yu) 以下標準：

ISO 13320-2009     G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法

技術參數：

1.   理論依據:Mie散射理論

2.   粒徑測量範圍:0.1-200um

3.   光源:半導體(ti) 製冷恒溫控製紅光固體(ti) 激光光源，波長635nm

4.   重複性誤差:<1%（標準D50偏差）

5.   測量誤差:<1%（標準D50偏差，用國家標準顆粒檢驗）

6.   檢測器:32或48或64或更高通道矽光電二極管

7.   樣品池:滴樣法樣品池10mL；循環樣品池（500mL內(nei) 置超聲分散、攪拌裝置）

8.   測量分析時間：正常條件下小於(yu) 1分鍾（從(cong) 開始測量到顯示分析結果）

9.   輸出內(nei) 容：體(ti) 積、數量微分分布和累積分布表和圖表；多種統計平均直徑；操作者信息；實驗樣品信息、分散介質信息等。

10. 顯示方式：內(nei) 嵌10.8寸工業(ye) 級別的電腦，可連接鍵盤、鼠標、U盤

11. 電腦係統：WIN 10係統，30GB硬盤容量、2GB係統內(nei) 存

12. 電源：220V，50 Hz

工作條件：

l  1.室內(nei) 溫度：15℃-35℃

l  2.相對溫度：不大於(yu) 85%（無冷凝）

l  3.建議用交流穩壓電源1KV，無強磁場幹擾。

l  4.由於(yu) 在微米級的範圍內(nei) 的測量，儀(yi) 器應放在堅固可靠、無振動的工作台上，並且在少塵條件下進行測量。

l  5.儀(yi) 器不應放在太陽直射、風大或溫度變化大的場所。

l  6.設備必須接地，保證安全和高精度。

7.室內(nei) 應清潔、防塵、無腐蝕性氣體(ti) 。